文章出處:新聞資訊 網(wǎng)責(zé)任編輯: 威斯特姆 閱讀量: 發(fā)表時(shí)間:2022-05-24
尺寸檢測(cè)在制造業(yè)中運(yùn)用非常普遍,而電子元器件是制造業(yè)待檢驗(yàn)物件中占比重較大的類別。運(yùn)用機(jī)器視覺技術(shù)的尺寸檢測(cè)系統(tǒng)替代了之前的人工測(cè)量,節(jié)約了大批量的人力與物力,為制造業(yè)檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展壯大增加了驅(qū)動(dòng)力。根據(jù)視覺檢測(cè)的電子元器件尺寸測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量對(duì)象是單片機(jī)芯片,系統(tǒng)主要包含相機(jī)標(biāo)定、圖像采集、圖像預(yù)處理與邊緣提取和芯片長寬尺寸測(cè)量等流程,其關(guān)鍵就在于圖像處理與尺寸測(cè)量2個(gè)方面。選型以后重點(diǎn)工作。
在對(duì)圖像處理方式的對(duì)照研究,包含圖像濾波、圖像二值化及邊緣提取等流程。當(dāng)中圖像濾波開展了對(duì)高斯濾波、均值濾波及中值濾波的對(duì)比分析,圖像二值化開展了對(duì)直方圖閾值法、較大類間方差法及平均值法的對(duì)比分析并最終結(jié)合3種方式運(yùn)用了人工經(jīng)驗(yàn)選擇法確定了圖像分割的閾值。采用連通域處理的方式對(duì)圖像開展孔洞填充、邊界平滑及面積過濾最終確定了單片機(jī)芯片的最小的外接矩形。最終進(jìn)行對(duì)單片機(jī)芯片的尺寸測(cè)量并開展了偏差測(cè)算與深入分析。
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